ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, методы исследования с помощью электронных микроскопов структуры тел до атомно-молекулярного уровня, их локального элементного состава и эл., магн. полей в микрообъёмах тел; создание электронных микроскопов, методик подготовки изучаемых объектов, обработки и анализа полученной информации. Позволяет исследовать разл. процессы в динамике (рост плёнок, деформацию кристаллов под действием переменной нагрузки и др.). Выделяют Э.м. просвечивающую (получение изображения внутр. структуры объектов толщ. 100 нм), растровую (поверхности объекта, сведения о составе и строении приповерхностных слоёв материала) и др. Твёрдые тела изучают в виде порошка, микрокристалла, плёнки или фольги; биол. объекты (клетки и тканевые структуры) — с использованием хим. фиксации для макс. сохранения их строения и др. Применяется в биологии, геологии, материаловедении, медицине, минералогии, физике, химии и др.
В Башкортостане Э.м. используется с 60‑х гг. 20 в. в Институте биологии для иссл. в области биотехнологии, прикладной ботаники, генетики и селекции (Р.Р.Ахметов, В.Г.Конарев, Р.Н.Чураев, М.С.Юмагужин); с 70‑х гг. в Глазных болезней институте и с 90‑х гг. в Центре глазной и пластической хирургии — офтальмологии и трансплантологии (Э.Р.Мулдашев), в т.ч. определения механизмов регенераторных процессов при трансплантации тканей (А.И.Лебедева, Л.А.Мусина, С.А.Муслимов). На пр‑тии “Иммунопрепарат” с помощью Э.м. изучаются морфол. и физиол. св‑ва бактерий и вирусов (И.Б.Ишкильдин). В 70‑е гг. в УАИ, в 80‑е гг. совм. с ИПСМ проведён анализ особенностей дефектной структуры пром. сплавов и её трансформации при сверхпластич. и пластической деформации (Р.З.Валиев, О.А.Кайбышев, М.В.Маркушев, Г.А.Салищев), усовершенствованы методы определения спектров разориентировок границ зёрен (В.Ю.Герцман, В.Н. Даниленко); в 90‑е гг. исследованы закономерности формирования объёмных наноструктурных материалов (Валиев, Р.Р.Мулюков, Салищев), эффекты искажения кристаллич. решётки наноструктурного Ni в приграничных областях на прямых изображениях атомной структуры (Валиев, Р.Ш.Мусалимов), влияние формируемой наноструктуры на магн. св‑ва (Г.Ф.Корзникова, Х.Я.Мулюков). С нач. 80‑х гг. в БГУ Э.м. используется для изучения особенностей полевой эмиссии электронов металлами с наноструктурой (Р.Р.Мулюков, Ю.М.Юмагузин), самородных металлов в природном и техногенном минеральном сырье (Г.В.Бойков, И.В.Высоцкий, С.К.Мустафин, Юмагузин), суперионных проводников (М.Х.Балапанов); в БГАУ — нервной системы животных (Г.Р.Шакирова); в Геологии институте — силикатов, цеолитов и пироксенов м‑ний Юж. Урала (С.А.Даниленко, В.И.Сначёв); в БГМУ — стволовых клеток (М.В.Тимербулатов, Р.Р.Фаязов, А.Г.Хасанов и др.). С 70‑х гг. Э.м. применяется для контроля разл. параметров выпускаемой продукции в УМПО, на Белорецком металлургич. комб‑те и др.
Лит.: Валиев Р.З., Вергазов А.Н., Герцман В.Ю. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии. М., 1991.
Р.Ш.Мусалимов
